输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 4 检测高度 120 mm 光轴间距 40 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 60 mm opaque object 不透明物体 检出距离 0.3 ...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 8 检测高度 280 mm 光轴间距 40 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 60 mm opaque object 不透明物体 检出距离 0.6 ...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 8 检测高度 280 mm 光轴间距 40 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 60 mm opaque object 不透明物体 检出距离 0.3 ...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 12 检测高度 440 mm 光轴间距 40 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 60 mm opaque object 不透明物体 检出距离 0.6...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 12 检测高度 440 mm 光轴间距 40 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 60 mm opaque object 不透明物体 检出距离 0.3...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 16 检测高度 600 mm 光轴间距 40 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 60 mm opaque object 不透明物体 检出距离 0.6...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 16 检测高度 600 mm 光轴间距 40 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 60 mm opaque object 不透明物体 检出距离 0.3...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 24 检测高度 920 mm 光轴间距 40 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 60 mm opaque object 不透明物体 检出距离 0.3...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 24 检测高度 920 mm 光轴间距 40 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 60 mm opaque object 不透明物体 检出距离 0.3...